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介电测试仪出阻抗吗?

宽频介电阻抗谱测试仪系统

系统功能：

宽频介电谱仪可以通过与宽频阻抗的完mei结合达到极宽的频率范围（20HZ-120M）；能灵敏地测量高分子材料介电常数及损耗等参数；具有极宽的阻抗分析范围（10mΩ~100TΩ）；可以测量各种固体、薄膜材料。其自主研发的全自动在线控制软件可以实时进行多达不同参数的测量与分析。

本仪器还可以进行不同温度范围的测量，自主研发精确温度控制系统，可以满足不同电介质材料测量时对温度范围和控温精度的不同要求，配合高低温测试模块，用于研究电介质材料在高温条件下的介电性能。

宽频介电阻抗谱仪不仅是实验室开发和研究新材料的重要测量手段，也是生产质量控制和优化生产工艺的强有力的工具。宽频介电阻抗谱仪广泛应用于化学、物理化学、电化学、电子、电工工程、材料科学、生物学和制药等领域，特别是聚合物、树脂、陶瓷、橡胶、玻璃、液晶、石油及悬浮体等材料的研究。

设备单元框图

宽频介电阻抗谱仪测试系统硬件主要包括阻抗分析仪、高阻计、高压放大器、温控模块，高低温测试环境（测试夹具）、工控电脑、供电及测试线缆构成。

设备测试功能框图

宽频介电谱仪可实现常温环境下的介电常数及损耗测量、高低温环境下的介电温谱及介电频谱测量，也可以进行不同温度下超高阻测量以及TSDC热激励电流测量功能。

人体静电测试仪的阻抗都应多少？

高温介电温谱仪是什么？

 　　高温介电温谱仪是一款专门用于评估电介质材料高温介电机制（材料极化、储能、驰豫、相变、微结构变化、分子团重新取向等）的重要测量系统，该系统通过测量介电常数、介电损耗和阻抗、相位随温度、频率变化的关系，直接得出电介质材料的温度谱、频率谱、阻抗谱、Cole-Cole图等重要的物理性能参数。高温介电温谱仪是科研实验室新材料的开发和研究、生产质量控制和生产工艺优化的重要工具。

　　高温介电温谱仪从专业角度来说，其实就是高温介电温谱测量系统。高温介电温谱测量系统是为了满足材料在高温环境下的介电性能测量需求而设计的。它由硬件设备和测量软件组成，包括高温测试平台、高温测试夹具、阻抗分析仪和高温介电测量系统软件四个组成部分。高温测试平台是为样品提供一个高温环境；高温测试夹具提供待测试样品的测试平台；阻抗分析仪则负责测试各组参数数据。Z后，再通过测量软件将这些硬件设备的功能整合在一起，形成一套由实验方案设计到温度控制、参数测量、图形数据显示与数据分析于一体的高温介电温谱测量系统。

　　高温介电温谱测量系统就是可以在高温、真空、气氛测量条件下测量电介质材料的介电常数和损耗、阻抗谱COLE-COLE图、机电耦合系数Kp的科研仪器设备。除高温介电温谱测量系统外，北京华测试验仪器有限公司还有高低温介电温谱测量系统、低温介电温谱测量系统（由低温真空探针台和介电测量套件组成）等。

影响电阻和介电特性的因素

4.2.1总则

下列参数可能会对电气绝缘材料的介电和电阻特性产生影响,任何试验报告都应列出这些参数,具

体如下:

时间;

一频率;

温度;

湿度;

一电场强度;

电压;

一条件处理;

电极材料。

本部分对这些参数分别进行具体说明。

4.2.2时间

如3.11所述,极化效应与时间密切相关。对任何一种极化而言,可指定一个松弛时间τ,在该松弛

时间内通过时域获取的测量值(如电阻特性),取决于施加电压的时间。

GB/T31838.1-2015/IEC62631-1:201

有些材料的松弛时间可能会相当长(至少要几个月之久)。为得到正确结果,可能有必要花费很长吋间来实施测量。然而出于实践原因,对电阻特性的测量要在电压施加1min后进行,这要求能够接受

这“lmin后测量值”与电气绝缘材料电阻真实值之间的误差。

注:电阻特性可能会明显受到充电电流的影响,并且充电电流的时间取决于电压源的内部电阻。

4.2.3频率

由于介电常数与损耗因数在大频率范围以上不能保持恒定,所以有必要在电介质材料被应用的频率下去测量介电常数与损耗因数

如图3所示,在特定频率下,损耗指数ε"在松弛转变中达到了Z大值。在该松弛转变中,介电常数

ε,'从较高值ε。(静态)下降到较低值ε灬(频率无穷大)。这种现象是由极化对时间依赖所造成的(见3.6),

可用松弛时间τ来描述,见式(13):

然而,由于与极化有关,实际上会出现多于一个的松弛转变

介质损耗因数tan0也与频率相关。根据3.3.4给出的定义,以及随频率升高而下降的ε,,相比损耗因数,tan的Z大值通过式(14)转向更高频率

注:时间与频率依赖性是彼此相关的,德拜的理论对此作了描述。他的著作对这些问题提供了更多参考资料。

4.2.4温度

随着温度的升高,介质损耗因数可能会出现一个或多个Z大值(见图4),这是因为温度会影响极化

(见3.6)和松弛时间的缩短。由此,介电常数随温度而逐步增大。

另外,在高温下离子和电子等粒子可以更自由地运动,使电导率升高

同理,绝缘电阻值和表面或体积电阻率也与温度密切相关。

注1:热老化效应也会对材料的介质损耗因数和电阻特性产生影响。对电气绝缘材料和系统的耐热性评估分别参照IEC60216-1和IEC60505,可能会有助于测量介电和电阻特性。

注2:在升温情况下,由材料电阻特性产生的传导电流可能会导致介质损耗因数的明显增大[见式(7)]

4.2.5湿度

所有介电和电阻特性,如介电常数、损耗因数、体积和表面电阻率,都会受湿度影响。因此不论在试验前后,对试样的条件处理,如对湿度的控制,都至关重要。

4.2.6电场强度

如果没有电子发射或相关效应控制,除界面极化外,所有种类的介电极化效应都和施加电场强度呈近似线性的关系。当界面极化存在时,自由离子的数量随电场强度增多,介质损耗因数Z大值和位置发

生改变。若没有电离效应,损耗和介电常数因数对电场强度的依赖性不大。

4.2.7电压

当电压或电场强度升高时,多种非线性现象可能发生。与时间相关的充电电流也与电压有关。

4.2.8条件处理

大部分固体绝缘材料的电阻和介电特性都会受到以上列出的参数影响。因此,有必要按照ISO291和ISO558中所规定的内容,对在试验前后试样条件处理程序的种类与持续时间进行详细说明。

试验前和试验中的shou选条件为:296K士2K的温度和50%±5%的相对湿度。

表面条件会影响材料性能,清洁试样表面会影响试验结果。然而在特定情况下,有必要在条件处理

前对试样进行清洁。

4.2.9试样

试样的形状和尺寸会影响测量值。试样的Z佳尺寸应参照GB/T31838的介电特性和电阻特性相

GB/T31838.1-2015/IEC62631-1:201

关部分的试验过程中所使用的尺寸进行选取。然而,由于形状和尺寸与绝缘材料的种类及其应用密切

相关,可能会出现形状应由适当产品标准来决定的情况。

注:在这些标准未出版前,GB/T1409-2006、GB/T1410-2006、GB/T10064-2006、GB/T10581-2006、

IEC60377-1:1973和IEC603772:1977中所引用的尺寸仍然有效。

4.2.10电极材料

电极材料的选择对获取可靠的测量结果而言十分重要,将在第5章中详细说明。

5电极系统

绝缘材料的电极应是一种易于涂覆到试样表面的材料,能与试样紧密接触,不会因电极电阻或试样

污染而出现不可预见的误差。电极材料在试验条件下还应具有抗腐蚀性。

注:对于交流电测量时,一种“非接触电极”有时会和具有足够低的表面电导率的试样一同使用。

为了避免在测量介电和电阻特性时出现严重错误,应谨慎确定电极的形状和试样的厚度。有关适用于特定种类测量电极系统的详细信息,可参照GB/T31838的有关试验程序部分的内容。

6试验程序

试验程序参照GB/T31838的相关部分。

根据给定的试验方法,任何可靠的试验设备或可使用的仪器都可用于测定上述提到的性质。不过,

对试验仪器的精确度应加以规定,以符合试验材料的要求。

高、低温介电测量系统用于分析宽频、高、低温环境条件下被测样品的阻抗Z、电抗X、导纳Y、电导G、电纳B、电感L、介电损耗D、品质因数Q等物理量，同时还可以分析被测样品随温度、频率、时间、偏压变化的曲线，是专业从事材料介电性能、温度弛豫、电弛豫研究的理想测试工具。用户通过软件可以直接得出介电间、频率、偏压变化的曲线，高温介电测量系统是功能材料测试必备电学性能评估设备。系統搭配Labview系统开发的hcpro软件，具备弹性的自定义功能，可进行频率、温度、时间、测试项等设置，符合材料测试多样化测试的需求。

本系统主要用于材料在不同温度不同频率下的电学性能测试，系统包含高、低温环境、阻抗分析仪、测试夹具，测试软件于一体，可测试材料的介电常数，介质损耗，阻抗谱Co-Co图，机电耦合系数等，同时可分析被测样品随温度，频率，时间变化的曲线，测试治具可以根据产品及测试项目要求选购；,实现了自动完成不同环境下的阻抗、介电参数的测量与分析。另外，还可根据用户提供的其他LCR品牌或型号完成定制需求。软件可根据实验方案设计，通过测量C和D值，自动完成介电常数和介电损耗随频率、电压、偏压、温度、时间多维变化的曲线。一次测量，同时输出，测量效率高、数据丰富多样。