新品发布 | 安东帕 Litesizer DLS 700 动态光散射粒度分析仪
新品发布
Litesizer DLS 系列是安东帕公司的动态光散射粒度/Zeta 电位分析仪产品，用于表征从纳米到微米粒子的粒度、粒度分布、Zeta 电位、分子量、粒子浓度、透光率等特性，具有适用浓度范围宽、一键操作完成测试、功能全面等优点。在 Litesizer DLS 100 和Litesizer DLS 500 取得了优秀销售和应用成绩的基础上，安东帕推出了功能更为强大的Litesizer DLS 700。
Litesizer DLS 700
安东帕 Litesizer DLS 700
动态光散射粒度分析仪
携全新复杂基质测试方案登场：
MAPS系统：复杂样品的简单方案
PCON系统：样品中不同颗粒浓度及总浓度的直观表达
MAPS多角度联合测试
简单的单峰样品测试已无法满足日益多样的测试需求，Litesizer DLS 700 正式推出多峰样品的Z 佳测试方案：
MAPS 系统拥有更高的分辨率，解决复杂样品的粒径问题；更准确的粒径分布结果；更优秀的分离度，粒径比例大于1：2 即能准确分辨。
不同角度分管样品中不同大小颗粒的结果，将其连立计算，即可获得，不同大小颗粒的准确结果。
实验分析
NIST 标准物质：
已知粒径分别为150nm和300nm（粒径大小比值为1：2），将两者混合，混合比为3:1
用背散射角测量/MAPS 测量
使用Maps进行三角度测量
背散射角度测试显示单峰
背散射测量只显示一个峰值无法将其分为双峰，MAPS 结果，准确的解出了两个峰值。
Litesizer DLS 700 测试显示双峰
PCON颗粒浓度测试
借助 PCON 系统强大的功能，现在您可以更了解样品中颗粒的浓度。Litesizer 700 不单单提供样品中颗粒的总浓度，通过 MAPS 对样品进行解析，还可以确定不同大小颗粒各自的浓度。
结果显示：峰大小、相应浓度、总浓度
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