原液粒度及zeta电位分析仪工作原理
原液粒度及Zeta电位分析仪在材料科学、生物医药、半导体等多个领域扮演着重要角色，其工作原理基于精密的物理和化学原理。下面，我们将详细科普这两种分析仪的工作原理。
一、原液粒度分析仪工作原理
原液粒度分析仪主要采用斯托克斯定律(Stokes' Law)和光散射原理进行粒度分析。斯托克斯定律描述了颗粒在流体中的沉降速度与颗粒尺寸、密度以及流体粘度之间的关系。具体来说，颗粒在流体中的沉降速度与颗粒的直径的平方成正比，与颗粒的密度和流体的粘度成反比。因此，通过测量颗粒在流体中的沉降速度，可以间接地计算出颗粒的尺寸分布。
在实际操作中，首先将待测颗粒样品与适量的流体混合，然后将混合物注入粒度分析仪的测量室内。测量室内设有激光器和光敏探测器，激光器发出的激光束穿过测量室。当颗粒通过激光束时，会散射出光信号，这些光信号被光敏探测器捕获。通过分析捕获的光信号，可以得到颗粒在流体中的沉降速度，进而计算出颗粒的尺寸分布。
二、Zeta电位分析仪工作原理
Zeta电位分析仪则采用电泳光散射原理。其工作原理是带电颗粒在外加电场作用下进行运动，电荷运动使散射光产生频率漂移(多普勒频移)。通过采用频谱漂移分析技术，可以计算出颗粒的电泳迁移率和Zeta电位。
具体来说，Zeta电位分析仪会先对待测样品进行电场处理，使样品中的带电颗粒发生电泳运动。然后，通过激光器和光敏探测器测量颗粒在电场中的运动情况，即散射光的频率漂移。根据这些数据，分析仪可以计算出颗粒的电泳迁移率和Zeta电位，从而了解样品的表面电荷性质和稳定性。
原液粒度及Zeta电位分析仪的工作原理基于精密的物理和化学原理，通过测量和分析颗粒在流体中的沉降速度或电泳运动情况，可以得出颗粒的尺寸分布和表面电荷性质等重要信息。这些信息对于材料科学、生物医药、半导体等领域的研究和应用具有重要意义。
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