美国CDE 178四探针电阻率/方块电阻测试仪在北京大学纳米化学研究ZX用于石墨烯研究完成安装验收
美国CDE 178四探针电阻率/方块电阻测试仪在北京大学纳米化学研究ZX用于石墨烯研究完成安装验收
2016年3月15号由我公司推荐的美国CDE四探针电阻率/方块电阻测试仪产品用于石墨烯电阻率测量.
北京大学纳米化学研究ZX,在经过慎重比较后Z终选择CDE178用于石墨烯电阻率测量.CDERESMAP178以业内精度高,稳定性,重复性好,赢得用户的认可.
半导体行业领xian品牌，服务众多知名半导体工业用户！
CDE ResMap四点探针(ResMap 178)
CDE提供自动计算机量测的四点探针阻值量测机台。快速，极ng确与软件控制下针、软件功能可**化下针压力，即使薄片量测也不易破裂。自动清针(Probe Conditioning);动作，双针头切换能使用可支持自动Loader，300mm机台可使用Front End，Z多扩充3个量测单元，支持Semi标准接口。
更多详情请访问:http://www.solarrd.com/product-62.html
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