直播回顾:徕卡显微镜在电子及半导体行业中的应用
什么是晶圆?
晶圆是指半导体集成电路制作所用的硅晶片,由于其形状为圆形,故称为晶圆,在硅晶片上可加工制作成各种电路元件结构,而成为有特定电性功能之IC产品
wafer 即为晶圆,由纯硅(Si)构成,晶片就是基于这个wafer上生产出来的。
wafer上的一个小块,就是晶片晶圆体,学名die,封装后就成为一个颗粒。
晶圆的尺寸?
晶圆的尺寸从Z初的2英寸到4/6/8英寸发展到当前的12英寸
PCB是电子工业的重要部件之一,几乎每种电子设备,小到电子手表、计算器,大到计算机,通讯电子设备,武器系统,只要有电子元器件,为了它们之间的电气互连,都要使用印制板。
PCB在线路板制程中的应用:盲孔深度测量;通孔内壁形貌观察;孔心距;银线及焊脚观察;孔边缘锡大小检测;常规器件引线焊点的检验等。
平板显示器FPD:玻璃上电极透明的话,从玻璃一侧看过去,被挤压的粒子会发白,会比原尺寸变大。
电极不透明的话,看粒子被挤压后留在电极上的压痕,压痕重的压合有效。
有塑封时可以撕开FPC,看残留在铜箔或玻璃电极上的粒子,或者使用带矫正环物镜,进行无损检测。
TFT-LCM 薄膜晶体管液晶显示模组:ACF压合以后的检验-通常采用金相显微镜的微分干涉对压合后的压行检验—COG
本文回顾了徕卡显微镜在电子及半导体行业推出的产品,想必总有一款能满足您的检测需求
DVM6 :超景深显微镜下的不同世界,带你领略镜下之美
产品特点:
DVM6 数字显微镜采用了1000物理像素的高分辨率PLANAPO光学镜头。
16:1大变焦范围,可在12:1 到 2350:1 的放大倍率中进行快速切换;
对所有重要参数和设置值的编码记录,100%还原之前拍摄效果;
不仅可对样品进行微观观察,还能进行二维三维等JZ的数据测量。
DVM6 数码显微镜可广泛应用在半导体、纺织、材料科学、YL、新能源、电子等行业。
在半导体行业:主要用于观察芯片表面划伤缺陷,同时可以测量凹槽深度
光伏板表面:观察光伏板截面的涂层分布
银线表面:观察银线表面的缺陷划痕
导电粒子:观察导电粒子的分布情况
在电子行业中:可以观察PCB版上的锡球焊接质量,并且可以测量锡球的直径和盲孔,
同时也能观察液晶屏的划伤,划痕。
PCBA板:观察PCBA板上的锡珠
液晶屏film层划痕:观察液晶屏划痕及测量划痕深度
Leica DM8000M/12000M 大平台正置材料显微镜
Leica DM8000M
Leica DM12000M
优点:
快速可切换UV和OUV对比度
高反差的倾斜模式
全内置LED照明,恒定色温4000K
高级复消色差光路设计
配合电动扫描台令精度更高,速度更快
高分辨观察方法 – 斜照明
了解更多:https://www.leica-microsystems.com.cn/cn/?nlc=20201230-SFDC-011237
全部评论(0条)
推荐阅读
-
- 网络直播|扫描电镜在半导体行业的应用
- 半导体工业由于半导体器件体积小、重量轻、寿命长、功率损耗小、机械性能好,因而适用的范围极广。
-
- 直播回顾 | 徕卡显微镜助力克服金相制样难点及NMI检测
- 本讲座彭老师介绍了通过使用徕卡金相显微镜对于常见的、难度比较大的几种金属材料的金相技能的实践与探索,包括金相组织、划痕、假象、样品的表观质量的评价
-
- 直播回顾 | 光学显微镜在地质分析中的应用
- 本次课程通过介绍不同类型的徕卡光学显微镜在地质行业的应用,帮助您选择最合适的设备进行分析、研究。
-
- 电位滴定仪在半导体行业的应用
- 半导体行业主要由三部分组成:硅片(Silicon Wafer)生产、集成电路(IC)制造和印刷电路板(PCB)制造。涉及的主要工艺包括酸洗、清洗、蚀刻、光刻、电镀等。每种工艺都会用到特定组分和浓度的
-
- 直播回顾 丨 iPSC 在细胞治疗中的商业化应用
- 2022 年 6 月 25 日,医麦课堂在线上举办,由安捷伦区域应用经理周鑫带来的主题为“干细胞产品研发策略——从光信号到图像分析”的线上直播课程,助力中国医药产业人才成长。
-
- 讲座直播:原子力显微镜在半导体领域的应用
- 随着半导体芯片技术进展, 元器件特征尺寸横向微缩的同时, 对于元器件纵向维度上的微缩,堆叠与平坦化控制也随之日趋重要, 相关线上制程监控也越来越重要。
-
- 直播预告 | 半导体行业电子气体金属杂质检测分析
- 气体圈子携手珀金埃尔默(PerkinElmer)将于7月14日共同推出《电子气体中金属杂质检测分析》直播课程,由珀金埃尔默ICP-MS技术支持工程师徐俊俊老师主讲
版权与免责声明
①本文由仪器网入驻的作者或注册的会员撰写并发布,观点仅代表作者本人,不代表仪器网立场。若内容侵犯到您的合法权益,请及时告诉,我们立即通知作者,并马上删除。
②凡本网注明"来源:仪器网"的所有作品,版权均属于仪器网,转载时须经本网同意,并请注明仪器网(www.yiqi.com)。
③本网转载并注明来源的作品,目的在于传递更多信息,并不代表本网赞同其观点或证实其内容的真实性,不承担此类作品侵权行为的直接责任及连带责任。其他媒体、网站或个人从本网转载时,必须保留本网注明的作品来源,并自负版权等法律责任。
④若本站内容侵犯到您的合法权益,请及时告诉,我们马上修改或删除。邮箱:hezou_yiqi
参与评论
登录后参与评论