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PCI 共光路干涉弱吸收测量仪

来源:北京昊然伟业光电科技有限公司      分类:商机 2023-09-25 10:24:47 79阅读次数

     随着高能激光的发展,对光学材料提出越来越高的要求,而光学材料由于制造工艺(生长工艺)、原材料杂质的存在,不可避免的存在吸收。随着光学材料研究的进一步深入,人们对于材料吸收系数的研究越来越深刻。研究发现,光学材料吸收电磁波后,能将电磁波能量转换成热能,从而引起光学材料内部温度升高。大的吸收系数是限制高能激光发展的主要因素之一,尤其对于强激光系统。据国外研究表明,100ppm/cm的吸收系数会导致光学材料约0.4°的升温,进而导致光学系统的不稳定。

       统意义的测量方法是无法测量到ppm量级的吸收系数,而如此小的吸收系数就能给您的应用带来不可想象的困难。因此,需要测量材料的吸收系数,通过测量吸收系数一方面可以为您选择合适的光学材料,另一方面可以帮助材料生产厂家在研究造成吸收大的原因时,从源头上解决吸收问题。

     公司自主研发共光路干涉弱吸收测量仪,测量精度高,单次测量可实现体和面吸收分开,测量速度快并可实现面扫描,可测量不同入射角的膜吸收。

     本公司可提供快速测试吸收样品服务,欢迎垂询!

规格

应用

  • 光学薄膜

  • 光学晶体材料

  • 光学镜片


特点

  • 精度高:0.1ppm

  • 一次测量可以区分体、面吸收

  • 扫描速度快(几分钟)

  • 对样品规格要求不高

  • 操作方便、简单


性能

  • 测量晶体(LBO、YVO4、KTP...)或光学产品(K9、BK7、UVFS...)内部材料的弱吸收(体吸收)

  • 测量晶体或光学产品的表面吸收或薄膜吸收


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最近更新:2024-09-05 09:08:40
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