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上海长方光学仪器有限公司

解析高低温试验GB2423.1-89试验A:低温试验方法

来源:内容来源于网络 浏览量:868次
【导读】一、主题内容与适用范围本标准规定了电工电子产品基本环境试验规程试验A:低温试验方法。本标准适用于非散热和散热的电工电子产品(包括元件、设备及其他产品)的低温试验。二、概述1.本标准...

一、主题内容与适用范围
本标准规定了电工电子产品基本环境试验规程试验A:低温试验方法。
本标准适用于非散热和散热的电工电子产品(包括元件、设备及其他产品)的低温试验。

二、概述
1.本标准于用来考核或确定电工、电子产品在低温环境条件下贮存和(或)使用的适应性,而不能用来评价试验样品在温度变化期的耐抗性和工作能力,这时应当采用GB2423.22《电工电子产品基本环境试验规程试验N:温度变化试验方法》。
2.本试验方法通常用在条件试验期间能达到温度稳定的试验样品。
试验时,是将具有室温的试验样品投入试验。当试验样品实际上是和某种特定的安装架一起使用时,则试验时就应使用这些安装架。
试验持续时间是从试验样品达温度稳定时开始计算;特殊情况下,如果条件试验期间试验样品达不到温度稳定,则试验持续时间从试验箱(室)达到规定试验温度时开始计算。

三、低温试验方法分类及方框图
A.低温试验方法分为:
1.非散热试验样品低温试验:
试验Aa:温度突变
试验Ab:温度浙变

2.散热试验样品低温试验:
试验Ad:温度浙变

B.低温试验方法分类的方框图如下:


四、高低温试验箱非散热试验样品和散热试验样品的试验方法:
1.非散热试验样品和散热试验样品:条件试验期间试验样品温度达到稳定后,在自由空气条件(即没有强迫空气循环)下测量时,试验样品表面上Z热点温度高于周围大气温度5度以上,认为是散热的,反之则为非散热试验样品,所有贮存试验及试验期间不通电或不加负载的,试验样品均为非散热试验样品,试验采用低温试验方法。

2.非散热试验样品:温度突变试验箱温度渐变试验(前者是温度快速变化试验箱后者是高低温试验箱)
①温度突变试验:先将试验箱温度调节到规定试验温度,然后放入具有室温的试验样品,这种试验方法适用于已知温度突变对试验样品不产生操作时。
②温度渐变试验:先将具有室温的试验样品放入同为室温的试验箱内,然后开动冷源将箱内温度逐渐冷却到规定试验温度,若由于试验样品太大或过重,或是由于复杂的功能试验接线,在突变试验时不能做到将其放入低温箱而不产生结霜情况时,也应采用试验②。

3.散热试验样品有和无强迫空气试验:行业内保证均匀度的波动的方法都是采用风循环模式,由电机带动风机产生风循环从而形成风速流向,无强迫空气循环的试验是模拟自由空气条件影响的一种试验,较适用于散热试验样品的测试,有强迫空气循环的试验是当不采用强迫空气循环就难于或不能保证规定的试验条件时,可用有强迫空气两种方法:A和B,方法A用于试验箱大到可不用强迫空气循环也能满足试验要求,但在箱内不用强迫空气循环就不能保持规定的低温时,即高低温试验箱的制冷或加热要求采用强迫空气循环时。



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2004-09-15 09:23:06
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