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上海长方光学仪器有限公司

广州仪器仪表公司:方块电阻的应用原理

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【导读】                                                                    广州仪器仪表公司 :方块电阻的应用原理

广州市仪器仪表公司 块电阻的应用原理
在上一篇文章中,我介绍了 电子测量仪器 的定义及其测量方法。许多人可能不了解测量方法。 ,为什么要这样测量?现在,让我们看一下:
此测试方法的优点是:( 1)使用这种方法,毫欧表可以测试数百毫欧,数十毫欧甚至更小的平方电阻。 (2)由于使用四端子测试,即使铜棒与导电膜之间的接触电阻以及铜棒与仪器之间的引线电阻大于测量的电阻,也不会影响测试准确性。 (3)测试精度高。由于毫欧表和其他仪器的高精度,方形电阻的测量精度主要取决于膜宽W和导体BC之间的距离L的机械精度。由于尺寸较大,因此可以使机械精度较高。在实际操作中,为了提高测试精度和测试长条状材料,W和L不必相等,并且L可以比W大得多。这时,方电阻Rs = Rx * W / L ,Rx是毫欧表的读数。尽管该方法具有高精度,但是更麻烦,特别是当导电膜材料较大并且形状不整齐时,难以测试。这时,需要一个特殊的四点探针来测试材料的平方电阻,如图3所示。
探针被四个探针阻塞,并且四个探针的头部之间的距离必须相等。四个探针通过四根导线连接到方形电阻测试仪。当将探针按在导电膜材料上时,平方电阻计可以立即显示该材料的平方电阻值。具体原理是,外端的两个探针产生电流场,内端的两个探针测试在这两个探针点处由电流场形成的电势。由于平方电阻越大,产生的电势越大,因此可以测量材料的平方电阻。需要指出的是,尽管它们都是四端子测试,但它们在原理上与图2所示的用铜棒测量方电阻的方法不同。因为电流中只有一小部分电流场在 BC点产生电压(电势)。所示的灵敏度要低得多,比率为1:4.53。
影响通过探针法测量的方电阻精度的因素:
(1)探针边缘和材料边缘之间的距离必须大于探针之间的距离,通常大于10倍。
(2)探头之间的距离必须相等,否则会产生比例测试误差。
(3)理论上,探针JD与导电膜之间的接触点越小越好。但是,在实际应用中,由于针状电极容易损坏被测试的导电膜材料,因此通常使用圆形的探针头。
*然后,讨论实际应用中的问题
1.如果被测导电膜材料的表面不干净,有油渍或材料暴露在空气中的时间过长,则会形成氧化层,这会影响测试的稳定性和准确性。测试期间需要注意。
2.如果探针的探针上有油渍,也会导致测试不稳定。此时,您可以将探针在干净的白纸上滑动几次并擦拭。
3.如果材料是蒸发的铝膜等,并且蒸发厚度太薄,则形成的铝膜不能均匀地连接成一片,而是形成点状分布。这时,平方电阻值将大大增加,并且权重法计算出的厚度与平方电阻值不相同。因此,此时,必须考虑添加校正因子。
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2007-03-19 08:36:00
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