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OFDR设备—光学器件分析系统 OCI-T
- 品牌：东隆科技
- 型号： OCI-T
- 产地：湖北 武汉
- 供应商报价：面议
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武汉东隆科技有限公司
更新时间：2024-10-14 13:27:56 -
销售范围售全国
入驻年限第5年
营业执照已审核
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产品特点
- OCI-T光学故障测量仪具有功能齐全、性价比高等特点，可实现从器件到光学链路全范围的精确插损、回损、长度测量。长度测量范围为10m，精度可达毫米量级，空间分辨率为20μm。非常适用于定量分析，品质监测及故障诊断。
详细介绍
产品特点
空间分辨率：20μm
测量长度：20m
中心波长：1550nm
插损、回损分析
主要应用无源器件插损、回损测量
硅光芯片插损、回损测量
平面波导器件测试
光学链路分析、诊断
参数型号
OCI-T
单位
测量长度1
20
m
空间分辨率2
20
μm
波长扫描范围
40
nm
中心波长
1550
nm
波长精度
1.0
pm
回损动态范围
65
dB
回损测量范围
-130~0
dB
回损灵敏度
-130
dB
回损测量精度
±0.5
dB
插损动态范围3
13
dB
插损测量精度
±0.5
dB
输入电压
AC 220/110V; DC 12V
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主机功率
60
W
通讯接口
USB
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光纤接口
FC/APC
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尺寸
W 345 * D 390 * H 165
mm
重量
7.5
kg
储藏温度
0~50
℃
工作温度
10~40
℃
工作湿度
10~90
%RH
备注：
1.OCI-T测量长度为20m ，后续支持升级至100m 。2.空间分辨率为20μm，后续支持升级至10μm。3.插损动态范围是指标准单模光纤其散射水平被本底噪声淹没之前的max.单向损耗。相关产品
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沪公网安备 31011502008050号