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OFDR光矢量分析系统 OCI-V
- 品牌:东隆科技
- 型号: OCI-V
- 产地:湖北 武汉
- 供应商报价:面议
- 武汉东隆科技有限公司 更新时间:2024-08-28 11:30:30
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销售范围售全国
入驻年限第5年
营业执照已审核
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产品特点
- OCI-V是一款快速检测光学器件损耗、色散和偏振等相关参数的光矢量分析系统。其原理是采用线性扫频光源对待测器件进行扫描,并结合相干检测技术获取待测器件的琼斯矩阵,进而获得器件插损、色散、偏振相关损耗、偏振模色散等光学参数。该系统采用独特光路设计以及先进算法,实现智能校准,操作简单,极大节省测试时间。
详细介绍
产品特点
自校准
测量长度:200m
波段:C+L、O波段(可选)
1秒内测量多种光学参数
主要应用
平面波导器件
硅光器件
光纤器件
波长可调器件、放大器、滤波器
测量参数:
偏振相关损耗PDL
偏振模色散PMD
插损IL
群延时GD
色散CD
琼斯矩阵参数
光学相位
参数
主要参数
标准模式
高动态范围模式
测量长度1
200
m
波段
C+L 波段:1525~1625;O 波段:1265~1340
nm
波长分辨率
1.6
pm
波长精度
±1.0
pm
损耗(IL)
动态范围
60
80
dB
插损精度
±0.1
±0.05
dB
分辨率
±0.05
±0.002
dB
回损精度
±0.1
dB
群延时 (GD)
量程
6
ns
精度
±0.2
±0.1
ps
损耗范围
45
60
dB
色散(CD)
精度
±10
±5
ps/nm
偏振相关损耗(PDL)
动态范围
40
50
dB
精度
±0.05
±0.03
dB
偏振模色散(PMD)
量程
6
ns
精度
±0.1
ps
损耗范围
40
50
dB
硬件
主机功率
60
W
通讯接口
USB
-
光纤接口
FC/APC
-
尺寸
W 345 * D 390 * H 165
mm
重量
7.5
kg
储存温度
0 ~ 50
℃
储存与工作温度
10 ~ 40
%RH
定制功能2
测量长度
100
m
空间分辨率
10μm@50m
20μm@100m
μm
回损测量范围
-125 ~ 0
dB
插损动态范围
18
dB
插、回损分辨率
0.05
dB
插、回损精度
±0.1
dB
备注:
1.透射模式测量长度200m,可拓展反射模式,测量长度为100m;
2.光矢量分析仪(OCI-V)可拓展OFDR功能,测量光纤链路。
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