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半导体分立器件测试仪认准武汉普赛斯仪表，普赛斯S系列、P系列数字源表现广泛用于半导体器件特性测试中，省钱省地，节约测试台空间，同时实现了大动态测试范围，集电压、电流输入输出及测量等多种功能于一体，普赛斯源表相对于进口源表，测试范围更广，价格更便宜！Z大输出电压达300V，最小测试电流达100pA，支持四象限工作

数字源表功能：
①集合电压源、电流源、电压表、电流表、电子负载的功能于一身，广泛用于各类精密器件的测量。
②四象限工作，可作为源或负载

数字源表优点：

同时精确提供和测量电压和/或电流；

       同步测量，减少测试时间

提供和测量非常广的电流和电压；

       电压测试范围30uV-300V,电流测试范围1pA-1A

支持运行用户脚本程序，无需电脑控制，提高生产测试速度；

       序列测试，简化操作，降低成本

采用用户熟悉的图形界面，不管用户经验是否丰富，使用起来都非常简便；

       触屏操作

 
与传统电源比：

电源过零需要改变线连接方式；

     增加需反复开关机械开关，降低了设备可靠性

电压电流限制精度有限；

电压1%，电流10mA

与电源结合万用表组合比：

万用表电源组合需要编程实现设备控制及同步；

     复杂连线、编程开发

电源限压限流性能差

      限压限流精度低，瞬态特性也无法保证

半导体分立器件测试仪应用优势：
1、多功能测量需求下的广泛的适应性，电压高达300V，电流低至30pA；
2、实现“源”的输出和“表”的测量同步进行，提高测试效率。
3、具备对测试器件的保护功能，可进行自我限制，避免因过充而造成的对测试器件的损害；
精确的电压电流限制功能，为器件提供完善的保护功能，避免器件损坏。
4、触屏图形化操作，使用简单。开放式平台，可根据实际应用的需求而针对性的开发软件。