产品介绍：

高分辨率脉冲时域反射计（TDR）/脉冲时域透射计（TDT）系统

实现世界zui高的信号质量

非破坏性分析IC封装以及电路版内部配线的故障部位

TS9000 TDR利用既有的太赫兹解析系统中的短脉冲信号处理技术，针对IC封装内部及电路版内部的配线故障部位进行非破坏性分析的系统。使用探针信号的太赫兹脉冲和之前用电气产生

的脉冲相比，脉冲短，带域宽，可得到更高分辨率的不良诊断。抽取测定好的时间波形变化，分析故障点（断路，短路，阻抗不匹配等），把估计的故障点在测定对像的CAD数据上可视化

呈现出来，很容易确定故障位置。

应用：

-微凸、C4凸块的破断、接触不良分析

-硅穿孔（TSV）的接触不良诊断

-接头、树脂版内部的配线不良诊断