BeNano 180 Zeta Pro 纳米粒度及 Zeta
BeNano 180 Zeta Pro 纳米粒度及 Zeta 电位分析仪
BeNano 180 Zeta Pro 纳米粒度及 Zeta 电位分析仪
——背向 + 90°散射粒度 + Zeta 电位三合一型
仪 器 简 介
BeNano 180 Zeta Pro 纳米粒度及Zeta电位分析仪是BeNano 90+BeNano 180+BeNano Zeta 三合一的顶 级光学检测系统。该系统中集成了背向 +90°动态光散射 DLS、电泳光散射 ELS和静态光散射技术 SLS,可以准确的检测颗粒的粒径及粒径分布,Zeta 电位,高分子和蛋白体系的分子量信息等参数,可广泛的应用于化学、化工、生物、制药、食品、材料等领域的基础研究和质量分析与控制。
指标与性能
Index&performance
粒径测试
原理:动态光散射技术
粒径范围:0.3 nm – 15 μm
样品量:3 μL - 1 mL
检测角度:173°+90°+12°
分析算法:Cumulants、通用模式、CONTIN、NNLS
Zeta电位测试
原理:相位分析光散射技术
检测角度:12°
Zeta范围:无实际限制
电泳迁移率范围:> ±20 μ.cm/V.s
电导率范围:0 - 260 mS/cm
Zeta测试粒径范围:2 nm – 110 μm
分子量测试
分子量范围:342 Da – 2 x 107 Da
微流变测试
频率范围:0.2 – 1.3 x 107 rad/s
测试能力:均方位移、复数模量、弹性模量、粘性模量、蠕变柔量
粘度和折光率测试
粘度范围:0.01 cp – 100 cp
折光率范围:1.3-1.6
趋势测试
模式:时间和温度
系统参数
温控范围:-15° C - 110° C+/- 0.1°C
冷凝控制:干燥空气或者氮气
标准激光光源:50 mW 高性能固体激光器, 671 nm
相关器:Z快25 ns采样,Z多 4000 通道,1011 动态线性范围
检测器:APD (高性能雪崩光电二极管)
光强控制:0.0001% - 100%,手动或自动
软件
中文和英文
符合21CFR Part 11
原理图
仪器检测
检测参数
颗粒体系的光强、体积、面积和数量分布
颗粒体系的 Zeta 电位及其分布
分子量
分布系数 PD.I
扩散系数 D
流体力学直径 D H
颗粒间相互作用力因子 k D
溶液粘度
检测技术
动态光散射
电泳光散射
静态光散射
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