3D calibration 电镜3D图像标准样品应用广泛，可用于扫描电镜SEM, 激光共聚焦显微镜CLSM，及原子力显微镜AFM/扫描隧道显微镜SPM

尚丰科技 用户提供德国产高度精密的扫描电镜3D图像测量及分析系统。 通过背反射电子探测器（BSE）获取4通道信号，无需倾斜样品，即可帮助电镜用户快速便捷的获取高度精密的3D背散射BSE图像，有效...

基于更先进的薄片技术，STEBIC拥有更高的空间分辨率 将STEM电镜和EBIC功能完好结合，为用户提供更广阔的的研究手段

尚丰科技向用户提供专业的的电子束感生电流分析系统，EBIC可以用来进行集成电路中pn结的定位和损伤研究。

EBAC/RCI电子束吸收电流分析系统，能够方便快速的定位半导体芯片电路中的短路及失效点位置，不但可以对同层电路，而且可以对次表层，甚至表层下第三层、第四层电路进行失效点的准确定位，因此能够对半导体芯...