半导体SEMI F57中金属元素和总有机碳分析解决方案
前言导读
01
挑 战
02
解决方案
03
小 结
根据标准SEMI F57:用于超纯水和液态化学品输送系统的聚合物材料及组件的规范文件要求,评价半导体输送管道的性能,鉴于浸泡液的成分多样性,需要仪器具有极强的抗干扰能力,同时对于洁净与污染的评估需求,需要仪器既具有高灵敏度,又具有宽范围的能力。
德国耶拿长期致力于金属离子及总有机碳分析全套解决方案,深耕元素分析领域,积累众多分析经验。德国品质,追求创新,德国耶拿PlasmaQuant MS电感耦合等离子体质谱仪(ICP-MS)和multi N/C UV HS总有机碳分析仪完全满足SEMI F57标准中规定的22种金属离子和总有机碳参数的检测,助力半导体行业的发展!
END
关注
提供化学分析、生命科学领域的高性能仪器
全部评论(0条)
推荐阅读
-
- 半导体SEMI F57中金属元素和总有机碳分析解决方案
- 关注德国耶拿分析仪器,提供化学分析、生命科学领域的高性能仪器
-
- 半导体SEMI F57中金属元素和总有机碳分析解决方案
- 关注德国耶拿分析仪器,提供化学分析、生命科学领域的高性能仪器
-
- 半导体行业解决方案之共聚物分析
- 半导体行业解决方案之共聚物分析
-
- 半导体行业解决方案之电镀液分析
- 半导体行业解决方案之电镀液分析
-
- 半导体行业解决方案之研磨液添加剂分析
- 半导体行业解决方案之研磨液添加剂分析
-
- 有机无机金属元素分析化验检测
- 元素分析是一种化学分析技术,用于确定样品中元素的种类和数量。
-
- “柔性薄膜光伏组件拉伸测试方法”等2项SEMI国际半导体行业标准发布
- 近日,上海召开了SEMI中国光伏标准技术委员会2020春季会议。
-
- 得益于电路编辑解决方案的半导体科技进步和面市时间
- 聚焦离子束 (FIB) 芯片电路编辑是一项成熟的技术,可以直接修复集成电路缺陷。
-
- 技术文章分享: 半导体和电子器件的AFM失效分析
- Park NX-Hivac上提供的高真空扫描扩展电阻显微镜(SSRM),可实现新一代设备的2D载体轮廓分析,并在高真空条件下测量高分辨率SSRM图像,以提高产品良率。
版权与免责声明
①本文由仪器网入驻的作者或注册的会员撰写并发布,观点仅代表作者本人,不代表仪器网立场。若内容侵犯到您的合法权益,请及时告诉,我们立即通知作者,并马上删除。
②凡本网注明"来源:仪器网"的所有作品,版权均属于仪器网,转载时须经本网同意,并请注明仪器网(www.yiqi.com)。
③本网转载并注明来源的作品,目的在于传递更多信息,并不代表本网赞同其观点或证实其内容的真实性,不承担此类作品侵权行为的直接责任及连带责任。其他媒体、网站或个人从本网转载时,必须保留本网注明的作品来源,并自负版权等法律责任。
④若本站内容侵犯到您的合法权益,请及时告诉,我们马上修改或删除。邮箱:hezou_yiqi
参与评论
登录后参与评论