F20 白光干涉膜厚测量仪是一款高精度、多功能的测量设备，能够快速测定薄膜厚度、光学常数、反射率和透过率等特性。F20膜厚仪可在数秒内提供准确的测量结果，为科研和工业生产提供可靠支持。

借助F54-XYT-300的光谱反射系统，可以快速轻松地测量200 x 200mm样品的薄膜厚度电动XY工作台自动移动到选定的测量点并提供快速的厚度测量，达到每秒两点。您可以从数十种预定义的极性，矩形...

借助F54-XY-200光谱反射系统，可以轻松地测量尺寸达200 x 200mm样品的薄膜厚度电动XY工作台自动移动到选定的测量点并提供厚度测量，达到每秒两点。您可以从数十种预定义的极性，矩形或线性测...

不论您是想要知道薄膜厚度、光学常熟，还是想要知道材料的反射率和透过率，F20都能满足您的需要。仅需花费几分钟完成安装，通过USB连接电脑，设备就可以在数秒内得到测量结果。

Filmetrics的精密光谱测量系统让用户简单快速地测量薄膜的厚度和光学常数，通过对待测膜层的上下界面间反射光谱的分析，几秒钟内就可测量结果。

Filmetrics的精密光谱测量系统让用户简单快速地测量薄膜的厚度和光学常数，通过对待测膜层的上下界面间反射光谱的分析，几秒钟内就可测量结果。当测量需要在待测样品表面的某些微小限定区域进行，或者其他...

以真空镀膜为设计目标，F10-RT 只要单击鼠标即可获得反射和透射光谱。 只需传统价格的一小部分，用户就能进行分析、确定 FWHM 并进行颜色分析。 可选的厚度和折射率模块让您能够充分利用 Fi...

F10-HC现在能够执行自动化基准矫正以及设置自己的积分时间这个方法不需要频繁的执行基准矫正就可以让使用者立即的执行样本的测量 。

F3-sX家族利用光谱反射原理，可以测试众多半导体及电解层的厚度，可测zuida厚度达3毫米。此类厚膜，相较于较薄膜层表面较粗糙且不均匀，F3-sX系列配置10微米的测试光斑直径因而可以快速容易的测量...

F32先进的光谱分析系统采用半宽的3U rack-mount底盘，加上附加的分光计，可达到四个不同的位置（EXR和UVX版本两个位置）。F32软件可以通过数字I/O或主机软件来控制启动/停止/复位测量...

Profilm3D仅用10倍物镜就提供了达到2mm的视场范围，同时其zuida4倍光学变焦的功能缓解了不同应用时切换多个物镜的需求。这些都进一步降低了采购成本。

依靠 F60光学膜厚测量仪的光谱测量系统，可以很简单快速地获得薄膜的厚度分布图。采用 r-θ 极坐标移动平台，可以非常快速的定位所需测试的点并测试厚度，测试非常快速，大约每秒能测试两点。用户可以自己绘...

F10-AR 是为简便而经济有效地测试眼科减反涂层设计的仪器。 F10-AR 使线上操作人员经过几分钟的培训，就可以进行厚度测量。

自动化薄膜厚度绘图系统Filmetrics F50 系列的产品能以每秒测绘两个点的速度快速的测绘薄膜厚度。一个电动R-Theta 平台可接受标准和客制化夹盘，样品直径可达450毫米。(耐用的平台在我们...

动化薄膜厚度分布图案系统依靠F54光谱测量系统，可以很简单快速地获得直径450毫米的样品薄膜的厚度分布图。采用r-θ极坐标移动平台，可以非常快速的定位所需测试的点并测试厚度，测试非常快速，大约每秒能测...