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HORIBA LA-960V2激光粒径分布分析仪秉承HORIBA 一贯的以独创设计的传统，其直观的软件、附件和高效的性能，能解决广泛的应用问题。

HORIBA CN-300离心式纳米粒度分析仪能实现对未稀释和稀释样品粒径分布的高精度测量。 颗粒的粒度是按粒径大小分类后测量的，这是离心分离法的关键特点。因此，一次测量就能得到宽范围内的精度结果。...

一台简洁小巧的装置能同时实现对纳米粒子三项参数的表征：粒径、Zeta电位和分子量。 纳米技术的研发是一个持续不断的过程，在分子和原子水平上控制物质以获得新、好、先进的材料和产品。为了得到效率高性能好...

F20 白光干涉膜厚测量仪是一款高精度、多功能的测量设备，能够快速测定薄膜厚度、光学常数、反射率和透过率等特性。F20膜厚仪可在数秒内提供准确的测量结果，为科研和工业生产提供可靠支持。

椭圆偏振光谱是一种无损无接触的光学测量技术，基于测量线偏振光经过薄膜样品反射后偏振状态发生的改变，通过模型拟合后得到薄膜、界面和表面粗糙层的厚度以及光学性质等等，可测厚度范围为几埃至几十微米。此外，还...

Filmetrics R54是KLA薄膜电阻和导电率测绘系统，从半导体制造到实现可穿戴技术所需的柔性电子产品，薄膜电阻监控对于任何使用导电薄膜的行业都比较重要。R54在功能上针对金属薄膜均匀性测绘、离...

四点探头和涡流探测系统 以矩形，线性，极性和自定义配置 X-Y行程可达200mm 在导体和半导体薄膜上测量方块电阻的范围较大 接触式和非接触式测量

借助F54-XYT-300的光谱反射系统，可以快速轻松地测量200 x 200mm样品的薄膜厚度电动XY工作台自动移动到选定的测量点并提供快速的厚度测量，达到每秒两点。您可以从数十种预定义的极性，矩形...

借助F54-XY-200光谱反射系统，可以轻松地测量尺寸达200 x 200mm样品的薄膜厚度电动XY工作台自动移动到选定的测量点并提供厚度测量，达到每秒两点。您可以从数十种预定义的极性，矩形或线性测...

​Table Stable在减震行业内有着相当丰富的经验。于此同时Table Stable测量技术也取得了很大的进步，一些灵敏度很高的仪器可能是一个自然谐振频率的被动系统，只有主动隔振系统才能消除共振...

不论您是想要知道薄膜厚度、光学常熟，还是想要知道材料的反射率和透过率，F20都能满足您的需要。仅需花费几分钟完成安装，通过USB连接电脑，设备就可以在数秒内得到测量结果。

Filmetrics的精密光谱测量系统让用户简单快速地测量薄膜的厚度和光学常数，通过对待测膜层的上下界面间反射光谱的分析，几秒钟内就可测量结果。

UNICORN α200系列低频消磁系统（EMI Canceling System，又称消磁器）， 是在 G3000系列基础上研发产品， 采用高精度纯直流测量/反馈 /控制电路， 适用于改善 300H...

全新设计，更易使用，优良的隔振性能。

产品特点 * 主控频率1Hz - 200Hz * 被动防振频率 >200Hz * 5-20毫秒的响应时间 * 安装简单,容易使用

HORIBA Smart SE智能型多功能椭偏仪是一款针对单层和多层薄膜进行简单，快速，精确表征和分析的工具。 多功能性设计，配置灵活，具备多角度测量能力，可方便实现在线与离线配置切换。