- 细胞培养板TC处理方法总结
- 上海富衡 | 稳定的表达载体——果蝇胚胎细胞S2
- 上海富衡 | 贴壁细胞冻存复苏后细胞不贴壁的原因总结
- 好消息│促进资源互补,实现共同繁荣,张家港市诺奖大核酸研究院与香港生物科技协会达成战略合作 【SA-8智能核酸合成仪产业化系列报道(六)】
- 精彩DSR,魅力电化学,厦门大学“电化学范式研究”暑期学校2024闭幕
- 手持光谱仪带你走进贵金属检测的新世界
- 【新品上线】得利特新推出便携式溶解氧分析仪
- 皓天设备成功交付,助力半导体行业科技创新
- 人双链RNA试剂盒实验说明书
- 概述原子力显微镜:在薄膜行业中的应用
- 解析:高低温试验箱与高低温冲击试验箱有何不同?
- 高低温湿热试验箱半封闭式和全封闭式制冷压缩机的区别
- 港东科技激光拉曼光谱仪安装系列(二)--------国鉴通(江苏)艺术品
![上海长方光学仪器有限公司](http://yiqi-oss.oss-cn-hangzhou.aliyuncs.com/aliyun/Manage/2018-07-06/20180706-2055212137.jpg)
- 来源:内容来源于网络 浏览量:1180次
- 【导读】蒸发铝膜、导电漆膜、印制电路板铜箔膜等薄膜状导电材料,衡量它们厚度的最好方法就是测试它们的方阻。什么是方阻呢?方阻就是方块电阻,指一个正方形的薄膜导电材料边到边“之”间的电阻,如图...
蒸发铝膜、导电漆膜、印制电路板铜箔膜等薄膜状导电材料,衡量它们厚度的Z好方法就是测试它们的方阻。什么是方阻呢?方阻就是方块电阻,指一个正方形的薄膜导电材料边到边“之”间的电阻,如图一所示,即B边到C边的电阻值。方块电阻有一个特性,即任意大小的正方形边到边的电阻都是一样的,不管边长是1米还是0.1米,它们的方阻都是一样,这样方阻仅与导电膜的厚度等因素有关。
方块电阻如何测试呢,可不可以用万用表电阻档直接测试图一所示的材料呢?不可以的,因万用表的表笔只能测试点到点之间的电阻,而这个点到点之间的电阻不表示任何意义。如要测试方阻,首先我们需要在A边和B边各压上一个电阻比导电膜电阻小得多的圆铜棒,而且这个圆铜棒光洁度要高,以便和导电膜接触良好。
这样我们就可以通过用万用表测试两铜棒之间的电阻来测出导电薄膜材料的方阻。如果方阻值比较小,如在几个欧姆以下,因为存在接触电阻以及万用表本身性能等因素,用万用表测试就会存在读数不稳和测不准的情况。这时就需要用专门的用四端测试的低电阻测试仪器,如毫欧计、微欧仪等。测试方法如下:用四根光洁的圆铜棒压在导电薄膜上,如图二所示。四根铜棒用A、B、C、D表示,它们上面焊有导线接到毫欧计上,我们使BC之间的距离L等于导电薄膜的宽度W,至于AB、CD之间的距离没有要求,一般在10--20mm就可以了,接通毫欧计以后,毫欧计显示的阻值就是材料的方阻值。这种测试方法的优点是:(1)用这种方法毫欧计可以测试到几百毫欧,几十毫欧,甚至更小的方阻值,(2)由于采用四端测试,铜棒和导电膜之间的接触电阻,铜棒到仪器的引线电阻,即使比被测电阻大也不会影响测试精度。(3)测试精度高。由于毫欧计等仪器的精度很高,方阻的测试精度主要由膜宽W和导电棒BC之间的距离L的机械精度决定,由于尺寸比较大,这个机械精度可以做得比较高。在实际操作时,为了提高测试精度和为了测试长条状材料,W和L不一定相等,可以使L比W大很多,此时方阻Rs=Rx*W/L,Rx为毫欧计读数。此方法虽然精度比较高,但比较麻烦,尤其在导电薄膜材料比较大,形状不整齐时,很难测试,这时就需要用专用的四探针探头来测试材料的方阻,如图三所示。
探头由四根探针阻成,要求四根探针头部的距离相等。四根探针由四根引联接到方阻测试仪上,当探头压在导电薄膜材料上面时,方阻计就能立即显示出材料的方阻值,具体原理是外端的两根探针产生电流场,内端上两根探针测试电流场在这两个探点上形成的电势。因为方阻越大,产生的电势也越大,因此就可以测出材料的方阻值。需要提出的是虽然都是四端测试,但原理上与图二所示用铜棒测方阻的方法不同。因电流场中仅少部分电流在BC点上产生电压(电势)。所示灵敏度要低得多,比值为1:4.53。
影响探头法测试方阻精度的因素:
(1)要求探头边缘到材料边缘的距离大大于探针间距,一般要求10倍以上。
(2)要求探针头之间的距离相等,否则就要产生等比例测试误差。
(3)理论上讲探针头与导电薄膜接触的点越小越好。但实际应用时,因针状电极容易破坏被测试的导电薄膜材料,所以一般采用圆形探针头。Z后谈谈实际应用中存在的问题
1、如果被测导电薄膜材料表面上不干净,存在油污或材料暴露在空气中时间过长,形成氧化层,会影响测试稳定性和测试精度。在测试中需要引起注意。
2、如探头的探针存在油污等也会引起测试不稳,此时可以把探头在干净的白纸上滑动几下擦一擦可以了。
3、如果材料是蒸发铝膜等,蒸发的厚度又太薄的话,形成的铝膜不能均匀的连成一片,而是形成点状分布,此时方块电阻值会大大增加,与通过称重法计算的厚度和方阻值不一样,因此,此时就要考虑到加入修正系数。仪器网-专业分析仪器服务平台,实验室仪器设备交易网,仪器行业专业网络宣传媒体。
相关热词:
等离子清洗机,反应釜,旋转蒸发仪,高精度温湿度计,露点仪,高效液相色谱仪价格,霉菌试验箱,跌落试验台,离子色谱仪价格,噪声计,高压灭菌器,集菌仪,接地电阻测试仪型号,柱温箱,旋涡混合仪,电热套,场强仪万能材料试验机价格,洗瓶机,匀浆机,耐候试验箱,熔融指数仪,透射电子显微镜。
- 2004-09-17 09:23:06
- 标签:
- 收藏(0) 赞(0) 踩(0)
-
随时了解更多仪器资讯,求购、招标、中标信息实时更新,厂商招商信息随时看。大量、齐全、专业的仪器信息尽在仪器网(yiqi.com)。扫一扫关注仪器网官方微信,随时随地查看仪器用户采购、招标需求!
-
方块电阻测试仪 wi1254502004-11-03 09:23:08
方块电阻测试仪是一种依照类似的国家标准和美国A.S.T.M标准,专门测量半导体薄层电阻(表面电阻)的新型仪器
-
四探针法测方块电阻的原理2006-12-07 11:40:27
四探针法测方块电阻的原理四探针法测方块电阻的原理四探针法是一种简便的测量电阻率的方法。对
-
广州仪器仪表公司:方块电阻的应用原理2007-03-19 08:36:00
-
广州仪器仪表公司:什么是方块电阻2007-06-14 08:06:27
广州仪器仪表公司 :什么是方块电阻 在科技发达的今天,
-
方块电阻的测试方法和定义2007-04-27 10:39:25
蒸发铝膜、导电漆膜、印制电路板铜箔膜等薄膜状导电材料,衡量它们厚度的*好方法就是测试
-
什么是方块电阻2007-07-01 09:05:53
-
什么是线圈元件的脉冲测试 什么是线圈元件的脉冲测试 1.线圈脉冲测试原理 22004-09-03 09:23:06
什么是线圈元件的脉冲测试1.线圈脉冲测试原理预先对储能电容C1充电,充电电压为仪器设定得最大电压,以一极短暂
-
四探针电阻率测试仪检测条件2004-08-12 09:23:07
四探针电阻率测试仪检测条件 本规程适用于新生产、使用中和修理后的接触式测量范围在0.001~103Ω·
-
硅片电阻率测量方法,四探针方阻仪原理2004-08-12 09:23:07
本机采用范德堡测量原理能改善样品因几何尺寸、边界效应、探针不等距和机械游移等外部因素对测量结果的影响及误差,
-
四探针电阻率测试仪的配置特点和技术参数2004-08-12 09:23:07
四探针电阻率/方阻测试仪(以下简称电阻率测试仪)是用来测量半导体材料(主要是硅单晶、锗单晶、硅片)电阻率
方块电阻是什么
-
您可能感兴趣
![](https://static.yiqi.com/Pingce/img/imgddd.png)
①本文由仪器网入驻的作者或注册的会员撰写并发布,观点仅代表作者本人,不代表仪器网立场。若内容侵犯到您的合法权益,请及时告诉,我们立即通知作者,并马上删除。
②凡本网注明"来源:仪器网"的所有作品,版权均属于仪器网,转载时须经本网同意,并请注明仪器网(www.yiqi.com)。
③本网转载并注明来源的作品,目的在于传递更多信息,并不代表本网赞同其观点或证实其内容的真实性,不承担此类作品侵权行为的直接责任及连带责任。其他媒体、网站或个人从本网转载时,必须保留本网注明的作品来源,并自负版权等法律责任。
④若本站内容侵犯到您的合法权益,请及时告诉,我们马上修改或删除。邮箱:hezou_yiqi