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- 【导读】 蒸发铝膜、导电漆膜、印制电路板铜箔膜等薄膜状导电材料,衡量它们厚度的*好方法就是测试它们
蒸发铝膜、导电漆膜、印刷电路板铜箔膜等薄膜导电材料。测量其厚度的ZJ方法是测试其平方电阻。什么是方电阻?方电阻就是方电阻,是指一块方型薄膜导电材料从一边到另一边“之间”的电阻,如图1所示,即B面到C面的电阻值。 方电阻有一个特性,就是任意大小的正方形的边对边电阻都是一样的。不管边长是1米还是0.1米,它们的方阻是一样的,所以方阻只是和导电膜的厚度一样。有关的。
如何测试 方电阻,可以用万用表直接用万用表的电阻档测试图1所示的材料吗?不能,因为万用表的表笔只能测点到点的电阻,点到点的电阻不代表什么。测试方电阻,首先需要在A面和B面压一根电阻比导电膜小很多的圆铜棒,圆铜棒光滑度高,与导电薄膜接触良好。 这样我们就可以通过用万用表测试两根铜棒之间的电阻来测量导电膜材料的方电阻。如果方阻比较小,比如几欧姆以下,由于接触电阻和万用表本身的性能等因素,用万用表测试时会出现读数不稳定和不准确的情况。这时候就需要使用专门的低阻四端测试仪,如毫欧表、微欧表等,测试方法如下:用四根光滑的圆铜棒压在导电膜上,如图2所示。四根铜棒分别用A、B、C、D表示,它们有焊接在毫欧表上的导线。我们使 BC 之间的距离 L 等于导电膜的宽度 W。至于AB和CD之间的距离,没有要求,一般10--20mm就够了。毫欧表接好后,毫欧表显示的电阻值为材料的平方电阻值。这种测试方法的优点是: (1)用这种方法,毫欧表可以测试几百毫欧、几十毫欧,甚至更小的方阻; (2)由于是四端测试,铜棒导电膜的接触电阻和铜棒与仪器之间的引线电阻,即使大于被测电阻,也不会影响测量精度. (3)测试精度高。由于毫欧表等仪器精度高,方电阻的测量精度主要由膜宽W和导体BC间距离L的机械精度决定。由于尺寸比较大,所以机械精度可以做得比较高。在实际操作中,为了提高测试精度和测试长条状材料,W和L不一定相等,可以使L比W大很多。此时方电阻Rs=Rx*W/L , Rx 是毫欧表读数。这种方法虽然精度高,但是比较麻烦,特别是导电膜材料大,形状不整齐时,测试起来比较困难。这时候就需要用专用的四点探针来测试材料的方电阻,如图3所示。 探头被四个探头挡住,四个探头的JD之间的距离必须相等。四个探头通过四根引线连接到方形电阻测试仪。当探针压在导电薄膜材料上时,方电阻表可立即显示该材料的方电阻值。具体原理是外端的两个探针产生电流场,内端的两个探针测试电流场在这两个探针点形成的电势。因为平方电阻越大,产生的电位就越大,所以可以测量材料的平方电阻。需要说明的是,虽然都是四端测试,但原理上与图2所示的用铜棒测量方电阻的方法不同,因为电流场中只有一小部分电流在 BC 点产生电压(电位)。显示的灵敏度要低得多,比率为 1:4.53。 探针法测量方电阻精度的影响因素:
(1)探头边缘与材料边缘的距离要求大于探头之间的距离,一般为10倍以上。
(2) 要求探头之间的距离相等,否则会产生比例测试误差。
(3)理论上,探头JD与导电膜的接触点越小越好。但在实际应用中,针状电极容易损坏被测导电薄膜材料,因此一般采用圆形探针。
*说说实际应用中的问题
1、如果被测导电膜材料表面不干净、有油渍或材料暴露在空气中时间过长,会形成氧化层,影响测试的稳定性和准确性。测试过程中需要注意。
2、如果探头的探头有油渍,也会造成测试不稳定。这时候可以将探头滑到干净的白纸上擦拭几遍。
3、如果材料是蒸镀铝膜等,蒸镀厚度太薄,形成的铝膜不能均匀连成一片,而是形成点状分布。这时平方电阻值会大大增加,这与称重的方法不同。计算出的厚度与平方电阻值不同。因此,此时需要考虑加入校正因子。
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- 2007-07-01 09:05:53
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